ate iflex 文章 進(jìn)入ate iflex技術(shù)社區(qū)
NI與領(lǐng)先的ATE供應(yīng)商泰瑞達(dá)合作實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)分析
- NI（已正式成為艾默生一員，現(xiàn)作為艾默生旗下新的測試與測量業(yè)務(wù)集團(tuán)運(yùn)營）近日宣布了一項(xiàng)新計(jì)劃，利用NI Global Operations（GO，前身為Optimal+）平臺在邊緣側(cè)提供實(shí)時(shí)的半導(dǎo)體分析解決方案。這種更新水平的基礎(chǔ)設(shè)施和控制能力為平臺用戶、NI自身、乃至第三方人員開發(fā)更先進(jìn)和更定制化的應(yīng)用程序打開了大門。此次發(fā)布的亮點(diǎn)是NI GO生態(tài)系統(tǒng)中的新支持層以及開始與領(lǐng)先ATE供應(yīng)商泰瑞達(dá)（Teradyne）的合作。OptimalPlus GO對半導(dǎo)體測試操作的質(zhì)量、良率、吞吐量和功能需求的不斷提
- 關(guān)鍵字： NI Global Operations ATE 泰瑞達(dá) Teradyne
如何為ATE應(yīng)用創(chuàng)建具有拉電流和灌電流功能的雙輸出電壓軌
- 本文詳細(xì)介紹一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法，該方法能為設(shè)備電源(DPS)提供正負(fù)電壓軌，并且只需要一個(gè)雙向電源。傳統(tǒng)的設(shè)備電源供電方法使用兩個(gè)雙向（拉電流和灌電流能力）電源，一個(gè)為正電壓軌供電，一個(gè)為負(fù)電壓軌供電。這種配置不但笨重，且成本高昂。簡介DPS一般與自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)和其他測量設(shè)備搭配使用。ATE是一種電腦控制機(jī)械設(shè)備，自動(dòng)驅(qū)動(dòng)傳統(tǒng)的手動(dòng)電子測試設(shè)備來評估功能、質(zhì)量、性能和應(yīng)力測試。這些ATE需要配套的DPS提供四象限電源運(yùn)行能力。DPS是一種四象限電源，可以提供正電壓或負(fù)電壓，同時(shí)具備拉電流和
- 關(guān)鍵字： ADI ATE
英國Pickering公司公布三管齊下方案 應(yīng)對產(chǎn)品淘汰問題
- 2023年01月12日，英國克拉克頓——英國Pickering公司作為生產(chǎn)用于電子測試及驗(yàn)證領(lǐng)域的信號開關(guān)與仿真解決方案的主要廠商，于今日公布了一套正式方案，用于保護(hù)客戶免受測試工程師在維護(hù)自動(dòng)測試設(shè)備（ATE）時(shí)面臨的最昂貴的挑戰(zhàn)之一 —— 產(chǎn)品淘汰?！皩τ诰哂虚L生命周期的關(guān)鍵任務(wù)產(chǎn)品的部件，在制造和設(shè)計(jì)了初始測試系統(tǒng)的數(shù)十年后，仍需要進(jìn)行測試?！盤ickering公司的 CEO Keith Moore說，“當(dāng)儀器供應(yīng)商停止使用這些測試系統(tǒng)中的部件時(shí) —— 這通常會讓從事航空航天/國防、鐵路運(yùn)輸或電力的
- 關(guān)鍵字： Pickering 產(chǎn)品淘汰 ATE
PI發(fā)布新型SCALE-iFlex產(chǎn)品以應(yīng)對功率變換新挑戰(zhàn)
- 2019年SCALE-iFlex解決了模塊化功率變換的挑戰(zhàn)，配備主控制器的門級驅(qū)動(dòng)產(chǎn)品。2021年P(guān)ower Integrations新增SCALE-iFlex產(chǎn)品系列，分別為SCALE-iFlex LT和SCALE-iFlex Single，以支持要求更為嚴(yán)格的環(huán)境。SCALE-iFlex LT——在風(fēng)電應(yīng)用中具有高度的靈活性 從新增裝機(jī)容量來看，2019年全球風(fēng)電新增裝機(jī)容量為60.4GW，較2001年增長超過8倍，年均復(fù)合增長率為13.18%。風(fēng)電作為現(xiàn)階段發(fā)展最快的可再生能源之一，在全球電力
- 關(guān)鍵字： PI 雙通道門極驅(qū)動(dòng)器 SCALE-iFlex LT SCALE-iFlex Single
Power Integrations推出適用于“新型雙通道”模塊的SCALE-iFlex Single即插即用型門極驅(qū)動(dòng)器
- SCALE-2技術(shù)可優(yōu)化外形尺寸，提高耐壓在3300V以內(nèi)的功率逆變器和變換器的效率、性能和可靠性
- 關(guān)鍵字： PI 雙通道門機(jī)驅(qū)動(dòng)器 SCALE-iFlex?Single IGBT
Power Integrations的新型SCALE-iFlex LT即插即用型門極驅(qū)動(dòng)器可將EconoDUAL IGBT模塊的性能提高20%
- 新的門驅(qū)動(dòng)器節(jié)省了六分之一的模塊；大大降低了系統(tǒng)的復(fù)雜性
- 關(guān)鍵字： PI 雙通道門機(jī)驅(qū)動(dòng)器 SCALE-iFlex?LT
Wi-Fi芯片基于IFLEX量產(chǎn)測試開發(fā)淺析
- 張桂玉，任希慶(安普德（天津）科技股份有限公司，天津?300384) 摘?要：本文測試的芯片是一款針對物聯(lián)網(wǎng)市場開發(fā)的高性能2.4 GHz/5 GHz雙頻Wi-Fi射頻芯片，支持802.11 a/b/g/n，Wi-Fi Direct、Soft AP以及STA/AP 模式共存。具有高速性、穩(wěn)定性和傳輸距離遠(yuǎn)等特點(diǎn)，可以高度匹配音視頻流媒體傳輸。廣泛應(yīng)用于無線流媒體音視頻播放、虛擬現(xiàn)實(shí)、無人機(jī)、運(yùn)動(dòng)相機(jī)、車聯(lián)網(wǎng)、工業(yè)控制、智能家居等領(lǐng)域。本文將對雙頻Wi-Fi芯片基于IntegraFlex平臺量產(chǎn)測試開
- 關(guān)鍵字： 202006 2.4G/5G 雙頻Wi-Fi芯片 ATE IFLEX 量產(chǎn)測試 硬件和軟件
芯片測試機(jī)面臨新挑戰(zhàn)，泰瑞達(dá)系列舉措捍衛(wèi)品牌
- 集成電路自動(dòng)測試設(shè)備（ATE，測試機(jī)）是檢測芯片功能和性能的專用設(shè)備，據(jù)SEMI預(yù)測，2019年中國測試機(jī)占據(jù)后道檢測設(shè)備的62.8%的份額（如圖1）。數(shù)據(jù)來源：SEMI，賽迪顧問整理圖1 2019年中國集成電路測試設(shè)備產(chǎn)品結(jié)構(gòu)ATE測試的趨勢是什么？為此，電子產(chǎn)品世界記者訪問了泰瑞達(dá)業(yè)務(wù)戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷（Natalian Der）女士，并深入了解了泰瑞達(dá)的產(chǎn)品特色與在華策略。1 芯片測試的新挑戰(zhàn)為了捍衛(wèi)電子產(chǎn)品的品牌，半導(dǎo)體公司可謂重任在肩：需要在芯片上整合多種功能，有高性能指標(biāo)，很短的上市時(shí)間，合理的成
- 關(guān)鍵字： 測試機(jī) ATE 芯片
利用ATE（自動(dòng)測試設(shè)備）測試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻
- 圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計(jì)的 ATE（自動(dòng)測試設(shè)備）中用作微處理器驅(qū)動(dòng)的電源負(fù)載。IC1 是一個(gè) 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它
- 關(guān)鍵字： ATE 自動(dòng)測試 設(shè)備 測試電源
羅德與施瓦茨成為首家通過RCS 5.3一致性用例認(rèn)證的測試儀表廠商
- 羅德與施瓦茨公司認(rèn)證了基于IMS 的融合通信5.3(RCS5.3) 235工作組一致性測試用例中的24條用例，進(jìn)一步展示了羅德與施瓦茨公司在4G 和IMS測試測量領(lǐng)域的領(lǐng)先地位，同時(shí)也是業(yè)界唯一的一個(gè)通過該認(rèn)證的儀表廠家。 2018年3月21日，慕尼黑——這些用例是在新加坡召開的 GCF一致性和交互性工作組會議上通過的。融合通信(RCS)基于IP多媒體子系統(tǒng)可以支持不同的應(yīng)用包括即時(shí)消息，在線提示以及在視頻通話中共享多媒體內(nèi)容等。由于不斷增長的手機(jī)用戶和移動(dòng)網(wǎng)
- 關(guān)鍵字： R&S CMW-ATE
基于PXI平臺的下一代半導(dǎo)體ATE解決方案
- 半導(dǎo)體測試行業(yè)現(xiàn)狀 電子行業(yè)正處于不斷的壓力下必須降低其制造成本。上市時(shí)間給半導(dǎo)體制造商很大的壓力，在新產(chǎn)品投入市場后的很短時(shí)間內(nèi)，利潤是最高的，隨后，由于競爭者開發(fā)了類似底價(jià)產(chǎn)品，利潤水平開始下降。開發(fā)一個(gè)有效的節(jié)省費(fèi)用的測試程序往往是阻礙新產(chǎn)品投入批量生產(chǎn)的瓶頸。 對于半導(dǎo)體供應(yīng)商來說，其中測試成本一直被視為沒有“增值”的成本。如圖1所示，ATE資本成本占IC平均銷售價(jià)格(ASP)的百分比逐漸變小?-?從2001年的5%上升到2010年的約1%。然而，整體器件的ASP也在減
- 關(guān)鍵字： ATE PXI
挑戰(zhàn)傳統(tǒng)ATE，測試廠商發(fā)力半導(dǎo)體測試
- 2017年春天開始，筆者有幸每個(gè)月接觸一家測試巨頭的高管，談?wù)?017中國市場的熱點(diǎn)時(shí)，半導(dǎo)體測試是被提及的最多的一個(gè)，也是最讓很多人意外的一個(gè)。
- 關(guān)鍵字： ATE PXI NI 半導(dǎo)體測試
PXI加入戰(zhàn)局，ATE全面模塊化時(shí)代到來
- 半導(dǎo)體測試ATE是整個(gè)測試系統(tǒng)中最為精密的一個(gè)環(huán)節(jié)，也是最具市場價(jià)值的測試應(yīng)用領(lǐng)域之一，相比于幾萬塊錢規(guī)模的自動(dòng)化測試系統(tǒng)，動(dòng)輒百萬的半導(dǎo)體測試ATE從技術(shù)上就限制了很多玩家的進(jìn)入。當(dāng)然，龐大的系統(tǒng)有自己固有的問題，就是設(shè)備的使用成本過于昂貴，基于這樣的需求，NI的PXI技術(shù)尋找了市場的切入點(diǎn)技術(shù)找到了市場的切入點(diǎn)。 在快速變遷的市場環(huán)境下，設(shè)備性能不斷挑戰(zhàn)著ATE系統(tǒng)功能的極限，測試設(shè)備的淘汰速度加快，測試成本也隨之增加，因而需要與日益嚴(yán)苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半導(dǎo)體測試客戶的最大亮
- 關(guān)鍵字： PXI ATE NI 模塊化 半導(dǎo)體測試
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